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Sigmascope SMP350測量非鐵金屬的電導(dǎo)率儀測量非鐵金屬的電導(dǎo)率儀是測量一個重要的材料屬性，不僅對金屬傳導(dǎo)電流的能力，也對其成分、微觀結(jié)構(gòu)和機械性能提供信息。使用SIGMASCOPE® SMP350可以簡單快速并 地測定電導(dǎo)率。

電解拋光腐蝕儀SDW -06X是一臺集電解拋光、腐蝕功能為一體的金相制樣儀器。適合于工廠、大專院校、科研機構(gòu)等實驗室使用。該設(shè)備利用電化學原理進行金相樣品的制備，還可用于金相試樣的拋光，也可用于金相試樣的腐蝕，具備制樣快，重復(fù)性好、沒有機械加工的變形層等優(yōu)點，是有色金屬試樣、鋼尤其是不銹鋼制備金相樣品的理想設(shè)備。

智能金屬箔電阻率測量儀 TB-300便攜全自動測量金屬導(dǎo)線、 箔電阻率、電導(dǎo)率等參數(shù)高性能檢測儀器。應(yīng)用電流 – 電壓降四端子測 量法、*電子技術(shù)、單片機技術(shù)及自動檢測技術(shù)設(shè)計的高新產(chǎn)品。其性能*符合 GB/T3048.2及 GB/T3048.4中的相關(guān)技術(shù)要求。廣泛應(yīng)用于金屬箔、金屬薄帶、電池極 耳等新能源領(lǐng)域及電力電工、電線電纜、電機電器、高等院校、科研單位等行業(yè)。

晶間腐蝕測試儀SDW-4334 是金屬局部腐蝕的一種，通常出現(xiàn)于不銹鋼、鋁合金、黃銅和鎳基合金等材料中。晶間腐蝕是沿著金屬晶粒間的分界面向內(nèi)部擴展的腐蝕。晶間腐蝕的原因是晶粒表面和內(nèi)部間化學成分的差異以及晶界雜質(zhì)或內(nèi)應(yīng)力的存在。

Sigma 2008A系列便攜式數(shù)字渦流電導(dǎo)率儀是可以替代國外同類產(chǎn)品、應(yīng)用渦流相位檢測法設(shè)計的數(shù)字電導(dǎo)率儀。可以用于非鐵磁性金屬的電導(dǎo)率、分級和分類等檢查。廣泛適用于冶金、機械、電力電工、航空、航天、核工業(yè)、軍工等工業(yè)部門。供應(yīng)Sigma2008A便攜式數(shù)字金屬渦流電導(dǎo)率儀